Разработка программного модуля организации работы с электронными документами научно-исследовательской лаборатории

Авторы: Болотин Ю.С., Денисова А.А.
Опубликовано в выпуске: #10(51)/2020
DOI: 10.18698/2541-8009-2020-10-649
Раздел: Информатика, вычислительная техника и управление | Рубрика: Системный анализ, управление и обработка информации, статистика
Ключевые слова: микросхема, система автоматизированного проектирования «Ковчег», большие интегральные схемы, контрольно-диагностический стенд, автоматизация документирования, измерительное оборудование, разработка микросхем, программа-методика контроля, программный модуль, сокращение сроков разработки микросхем
Опубликовано: 25.11.2020

Рассмотрены основные способы формирования документов для разработанных микросхем и предложен вариант, наиболее подходящий для электротехнических систем автоматизированного проектирования. Приведены описания структуры папки с программой методики измерения больших интегральных схем и последовательности тестов. Представлено описание алгоритма разбора файлов с тестами микросхем с учетом особенностей измерительного оборудования и используемой системы проектирования. Разработанный программный модуль позволит не только уменьшить количество ошибок, снизить трудоемкость и увеличить эффективность электронного документооборота, но и повысит конкурентоспособность отечественных систем проектирования на мировом рынке программного обеспечения.

Литература

[1] Стешенко В.Б. P-CAD. Технология проектирования печатных плат. СПб., БХВ-Петербург, 2003.

[2] Гаврилов С.В., Болотин Ю.С. Разработка программного модуля формирования документации измерения бис для контрольно-измерительной установки Hewlett-Packard 82000-D50. Мат. Межд. науч.-практ. конф. Актуальные проблемы информатизации в цифровой экономике и научных исследованиях. М., МИЭТ, 2019, с. 37–41.

[3] Сауров А.Н., ред. Методология проектирования и освоение производства. М., Техносфера, 2019.

[4] Магеррамов Р.В. Использование контрольно-диагностических стендов для тестирования микросхем. Молодой ученый, 2016, № 17, с. 53–57.

[5] Черников Б.В., Можжухина А.В., Борисова Е.А. Проблемы локализации ошибок при проектировании специализированных БИС. Современные наукоемкие технологии, 2019, № 11-2, с. 301–305. DOI: https://doi.org/10.17513/snt.37808

[6] Крупейченко И.А., Денисова А.А. Методика обнаружения потенциально дефектных кристаллов микросхем по результатам анализа распределения электрических параметров. XXXVII Межд. науч.-практ. конф. Actual scientific research 2018. Астрахань, Олимп, 2018, с. 151–153.

[7] Магеррамов Р.В. Процесс тестирования интегральных микросхем. Молодой ученый, 2015, № 13, с. 154–158.