Неисправности в электронике: причины, выявление, ремонт

Авторы: Челноков Е.Д., Духин И.Д., Стахов Д.А.
Опубликовано в выпуске: #3(80)/2023
DOI: 10.18698/2541-8009-2023-3-869
Раздел: Информатика, вычислительная техника и управление | Рубрика: Системный анализ, управление и обработка информации, статистика
Ключевые слова: электроника, микроэлектроника, радиотехника, печатные платы, термоэлектрическое разрушение, диагностика, методы устранения неисправностей, воздействие факторов на аппаратуру
Опубликовано: 04.04.2023

Электронная аппаратура имеет свойство выходить из строя и работать неисправно, однако не всегда стоит заменять ее новой, исправной электроникой, поскольку это не всегда целесообразно и экономически выгодно. Нередки случаи, когда альтернативы просто нет на рынке в силу сложности изготовления аппаратуры и логистики, а возможность диагностировать поломку и отремонтировать неисправность часто не занимает много времени и средств. В работе приведены причины, из-за которых могут возникать повреждения, их проявление на работе электроники, конструкторские решения, предотвращающие дефекты от конкретных факторов окружающей среды, методы диагностирования и ремонт поломок.

Литература

[1] Классификация неисправностей. URL: https://helpiks.org/8-95905.html?ysclid=lbgy2hdp2q735672175 (дата обращения: 02.02.2023).

[2] Типовые неисправности электронных устройств. URL: http://www.mkuznecov.ru/content/tipovye-neispravnosti-elektronnyh-ustroystv.html?ysclid=lbgz0q04jj683523656 (дата обращения: 02.02.2023).

[3] Пирогова Е.В. Проектирование и технология печатных плат. Москва, Форум, Инфра-М, 2005.

[4] Влагозащита радиоэлектронной аппаратуры. URL: https://kit-e.ru/elcomp/vlagozashhita-radioelektronnoj-apparatury/?ysclid=lbj9og4zlf564214919 (дата обращения: 02.02.2023).

[5] Сидоров В.Г., Шмидт Н.М. Деградационные явления и проблемы надежности полупроводниковых источников излучения. Научно-технические ведомости СПбГПУ. Физико-математические науки, 2013, № 2, с. 71–80.

[6] Гриднев В.Н., Гриднева Г.Н. Проектирование коммутационных структур электронных средств. Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2014.

[7] Методы поиска и устранения неисправностей. А также причин неработоспособности электронных устройств. URL: http://www.mkuznecov.ru/metodi.html?ysclid=lbgzdn0kjk381999275 (дата обращения: 02.02.2023).

[8] Семенцов С.Г., Гриднев В.Н., Сергеева Н.А. Тепловизионные методы оценки влияния температурных режимов на надежность электронной аппаратуры. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Приборостроение, 2016, № 1, с. 3–14. DOI: http://dx.doi.org/10.18698/0236-3933-2016-1-3-14