Исследование нестационарного метода определения коэффициента температуропроводности с учетом теплообмена с окружающей средой

Авторы: Светлов А.С.
Опубликовано в выпуске: #11(16)/2017
DOI: 10.18698/2541-8009-2017-11-201
Раздел: Физика | Рубрика: Теплофизика и теоретическая теплотехника
Ключевые слова: теплопроводность, тонкие покрытия, метод импульсного нагрева, температуропроводность
Опубликовано: 30.10.2017

Проведено расчетно-теоретическое исследование нестационарного метода импульсного нагрева с учетом теплообмена с окружающей средой для определения коэффициента температуропроводности тонкопленочных покрытий, представляющих интерес с точки зрения интенсификации теплообмена в инфракрасном диапазоне излучения при температуре 300…1 000 К. Получены зависимости длительности импульса, энергии и мощности нагрева от толщины тонкой пленки. Разработана методика анализа теплофизических свойств тонких покрытий.

Литература

[1] Jitsukawa H., Nagasaka Y. Development of measurement technique to evaluate thermal conductivity of thermoelectric Bi2Te3 submicron thin films by photothermal radiometry. 17th ECTP. Bratislava, Slovakia. 2005.

[2] Агажанов А.Ш. Экспериментальное исследование теплопроводности и температуропроводности жидких теплоносителей и конструкционных материалов ядерной энергетики. Дисс. … канд. физ.-мат. наук. Новосибирск, 2016, 171 с.

[3] Parker W. J., Jenkins R. J., Butler C, pp., Abbott G. L. Flash method of determining thermal diffusivity, heat capacity, and thermal conductivity. Journal of Applied Physics, 2004, vol. 32, pp. 1679–1684.

[4] Kim H.J., Kim J.H., Jeon P.S. The measurement of thermal conductivities using the photothermal deflection method for thin films with varying thickness. Journal of Mechanical Science and Technology, 2009, vol. 23, no. 9, pp. 2514–2520.

[5] Zhao D., Qian X., Gu X., Jajja S.A., Yang R. Measurement techniques for thermal conductivity and interfacial thermal conductance of bulk and thin film materials. Journal of Electronic Packaging, 2016, vol. 138, no. 4, pp. 040802–3.

[6] Moorhead M., Avedisian T., Kazimirov A.Y. Determining the thermal conductivity of W/B4C multilayer structures using photothermal deflection spectroscopy. 10th AIAA/ASME Joint Thermophysics and Heat Transfer Conference. Chicago, 2010, 13 p.

[7] Maize K., Ezzahri Y., Wang X., Singer S., Majumdar A., Shakouri A. Measurement of thin film isotropic and anisotropic thermal conductivity using 3ω and thermoreflectance imaging. 24th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium. San Jose, 2008, 6 p.